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ダイヤモンドパウダーの粒径分析
- May 08, 2018 -

科学技術の発展に伴い、粉体産業は21世紀の最も重要な基礎産業の一つになります。

粒子サイズは、粉末材料の主な指標の1つです。 製品の性能と性能に直接影響します。 それは広くあらゆる人生に関わっている。 例えば、セメントの粒度は、セメントの硬化時間を決定する。 抗菌性粉末の粒子サイズは、紡糸後の効果を決定する。 パラフィンの粒度は添加物として決定される。 インクにインクを添加した後のインクの流動性。 従って、粒径の試験はますます注目を集めている。

細分性テストには多くの方法があり、何百もの統計があります。 現在、決済、レーザー、スクリーニング、イメージ、および抵抗の5つの一般的に使用される方法があります。 さらに、特定の産業および分野で一般的に使用されるいくつかの試験方法がある。

ふるい分け法

ふるい分けは、粒子サイズ測定の最も伝統的な方法の1つです。 異なるサイズのふるい穴を通して粒子の粒度を試験することである。 スクリーニング方法は、乾式ふるいと湿式ふるいの2種類に分けられます。 単一のふるいを用いて単一粒子サイズの粒子の通過速度を制御することができ、多数のふるいを用いて複数の粒子サイズの粒子の通過速度を同時に測定し、その割合を計算することができる。

ふるい分け方法には、手動スクリーン、振動スクリーン、陰圧スクリーン、自動スクリーンなどがあります。 粒子が粒度およびスクリーニング時間および他の要因に関連し得るか否かにかかわらず、異なる産業は、それぞれ独自のスクリーニング基準を有する。

利点:低コストで使いやすい。

短所:400メッシュ(38um)未満の乾燥粉末を測定することは困難です。 測定時間が長いほど結果は小さくなります。 ジェットまたはエマルジョンを測定することができない。 加工前後のふるい分け代などの針状の試料を測定すると、奇妙な結果が得られます。

決済方法

沈降法とは、液体中の粒径の異なる粒子の沈降速度に応じて粒径分布を測定する方法である。 基本的なプロセスは、特定の液体にサンプルを入れて一定の濃度の懸濁液を作り、懸濁液中の粒子は重力または遠心力の作用下に沈降する。 異なる粒径の沈降速度は異なる。 大きな粒子の沈降速度は速く、小さな粒子の沈降速度は遅い。

実際の操作では、試験粒子の最終的な沈降速度は非常に困難であるので、すべての沈降装置は、圧力、密度、重量、濃度または光透過率などの最終沈降速度に関連する他の物理的パラメータである。 次いで、粒子の粒径分布が得られる。 決済方法は、重力決済と遠心決済の2種類に分かれています。 試験範囲は通常0.5〜100μmであり、遠心分離のサイズ範囲は0.05〜5μで測定することができる。 沈降式粒子計は、一般に、重力沈降と遠心沈降とを組み合わせる方法を採用する。

利点:直感的な原則、高解像度、低価格、低ランニングコスト。

短所:測定速度が遅い、異なる密度の混合物を扱うことができません。 その結果は、環境要因(温度など)と人的要因の影響を受けます。

レーザー法

レーザー回折(小角前方散乱とも呼ばれる)は、散乱レーザー粒子測定技術における最も成熟した最も広く使用されている方法である。 粒子の前に小さな角度で散乱光エネルギーの分布を測定することによって、粒子サイズは、古典的ミー散乱理論および大粒子に適用可能なフラウンホーファ理論によって得られる。 サイズと分布。 より大きな粒子サイズのために、小角度前方散乱法は、主に前方小角度範囲での回折のため回折法とも称される。

レーザー回折法は、幅広い用途、広範囲の測定範囲、正確な測定、高精度、良好な再現性、高速測定速度、少ない物理パラメータ、およびオンライン測定を備えています。

利点:テスト範囲は広いです(レーザー粒度メーターの最高測定範囲は0.04-2000um、一般的に0.1-300umに達することができます)、テストスピードは速く(1-3分/回)、自動化は操作が簡単で、再現性と信頼性が良好で、乾燥粉末サンプルをテストすることができ、混合粉末、エマルジョンおよびフォグドロップの測定を測定することができます。

短所:粒度分布の狭いサンプルを測定するのには適しておらず、分解能は比較的低い。

抵抗法

Kurt法としても知られる抵抗法は、米国のKurtという人によって発明された粒径試験法である。 この方法は、小さい瞬間の小さな穴の中の粒子に基づいており、小さな穴の空間の小さな部分を占め、導電性液体の小さな孔を開き、抵抗の両端の小さな細孔の原理は、サイズ分布をテストする。 孔の両端の抵抗は、粒子の体積に正比例する。 異なる大きさの粒子サイズの粒子が小さな微細孔を連続的に通過するとき、小さい微細孔の両端で異なる大きさの抵抗信号が連続的に生成される。 これらの抵抗信号をコンピュータで処理することにより、粒度分布を得ることができる。